报告人：郜鹏，西安电子科技大学教授

时  间：2024年5月13日（周一）上午10:00

地  点：深圳大学粤海校区光电所多功能厅

报告摘要：

结构光照明显微（SIM）技术利用条纹结构光照明样品，可以实现超分辨和三维层析显微成像。与其他超分辨光学显微技术相比，SIM具有成像速度慢、光毒性小、对荧光标记无特殊要求等优点，是最适合活细胞显微成像的光学技术之一。然而，传统SIM在成像深度和成像通量上存在的瓶颈。该报告将介绍扫描结构光照明三维显微技术(SSI-3DM)，以实现对厚样品的大深度、快速、三维层析成像。该方法通过共振扫描聚焦光斑形成条纹结构光，实现了300微米深处的三维层析成像，成像信背比相比于普通宽场提升了12倍；利用像素重分配方法，还可实现对深层结构的超分辨显微成像。此外，通过将焦点扫描与相关光谱分析相结合，能够实现对细胞内微粒动态过程的定量观测。

报告人简介：

郜鹏，西安电子科技大学教授，博士生导师。2011年入选“中科院百篇优秀博士论文”，2012年德国“洪堡学者”，2014年欧盟“玛丽居里学者”(IEF)，2018年国家级青年人才。主要研究方向为：超分辨光学显微与定量相位显微。迄今在Nature Photonics（中科院1区，影响因子：39.728）,Adv. Opt. Photon.（中科院1区，影响因子：24.751）等学术期刊发表研究论文100余篇、授权发明专利10项（产业转化5项），撰写学术专著1部。研究工作曾被选为期刊封面、美国光学学会-研究热点、并被海外媒体ScienceDaily, Physics News等所报道。目前是西安市超分辨光学显微工程研究中心主任，Optics and Laser Technology 和Frontiers in Physics期刊副编辑、波兰自然基金委评审专家。