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学术报告:自动化XCT平面扫描成像系统简介

发布时间:2024-11-17    点击数:

报告人:李阿蒙,博士,深圳市计量质量检测研究院技术研发中心副主任

时间:2024年11月17日,12:30–13:30

地点:粤海校区光电子研究所多功能厅301

邀请人:何文奇,副教授

摘要:

平面扫描式  X 射线尺寸测量机是基于锥束射线倾斜扫描方式(Computed Laminography,CL)技术的 X 射线 CT  成像测量系统,区别于传统 CT,无需对被测物体进行 360  度立体扫描,通过平板探测器与物体在平行平面的扫描投影图像即可实现三维重建。因其对扁平物体如芯片、电路板、航空复材、太阳能帆板等的对象成像检测具有独特的优势。本报告介绍了平面扫描式  X 射线尺寸测量机基本组成和测量结果。并结合机器人自动化测量设计了多种方案,验证此方法的有效性和扩展性


简介:

李阿蒙,博士,深圳市计量质量检测研究院研发中心副主任,主要从事测量技术验证及自动化设备开发、三维传感成像研制,结构光投影三维成像系统研究,三维数字成像系统配套软件开发等工作,研究方向为三维成像与造型,三维扫描数据获取方法及装置,自动化在线测量技术等。主持或参与多项国家、省市级科研项目,获深圳市技术发明一等奖一项,广东省科学技术二等奖2项